| Monitor for Microbunching Instability in X-ray Free Electron Laser | |
| C. Kim; H.-S. Kang; G. Kim; I.S. Ko; J.H. Ko | |
| 2020 | |
| 会议日期 | 2020 |
| 会议地点 | Brazil |
| 会议录 | 9th International Beam Instrumentation Conference 2020
 |
| 内容类型 | 会议论文 |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/288537]  |
| 专题 | 高能物理研究所_学术会议_国际参会_JaCoW高能所参会会议_IBIC |
| 作者单位 | PAL, Pohang, Republic of Korea |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | C. Kim,H.-S. Kang,G. Kim,et al. Monitor for Microbunching Instability in X-ray Free Electron Laser[C]. 见:. Brazil. 2020. |
| 个性服务 |
| 查看访问统计 |
| 相关权益政策 |
| 暂无数据 |
| 收藏/分享 |
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。
修改评论