| 一种闪烁体余辉精确测量装置及方法 | |
| 刘永安; 盛立志; 强鹏飞; 苏桐; 刘哲; 田进寿; 赵宝升 | |
| 2020-08-31 | |
| 著作权人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 专利号 | CN202010897910.X |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 发明专利 |
| 产权排序 | 1 |
| 英文摘要 | 本发明涉及一种光纤包层加工方法，具体涉及一种超细单晶光纤包层加工方法及系统。解决目前制备单晶光纤包层的方法存在的工艺路线复杂、效率低、重复性差及精度差等问题，方法包括：仿真，获得微结构的直径以及微结构的深度；确定光学系统理论聚焦光斑直径；将激光光束整形为贝塞尔光束；对贝塞尔光束进行空间裁剪；确定微结构制造焦深h；将光纤分段；调整焦距，在光纤表面加工微结构；系统包括激光器及依次设置在激光器出射光路中的变倍扩束镜、可变环形光阑、空间光调制器、反射镜及聚焦显微物镜，还包括激光测距\自动对焦装置。本发明将光纤分段，每一段对应不同的焦距，通过在线调整焦距实现各段光纤的加工，具有高的加工精度。 |
| 公开日期 | 2020-12-04 |
| 申请日期 | 2020-08-31 |
| 语种 | 中文 |
| 状态 | 申请中 |
| 内容类型 | 专利 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/94188]  |
| 专题 | 西安光学精密机械研究所_光电子学研究室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 刘永安,盛立志,强鹏飞,等. 一种闪烁体余辉精确测量装置及方法. CN202010897910.X. 2020-08-31. |
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