多谱线拟合电感耦合等离子体原子发射光谱法测定高纯镍中痕量钴

	多谱线拟合电感耦合等离子体原子发射光谱法测定高纯镍中痕量钴
	严子心; 曲景奎; 余志辉; 宋静; 魏广叶
刊名	分析化学
	2019
卷号	047 期号:003 页码:423
ISSN号	0253-3820
英文摘要	采用基体匹配、标准加入和多谱线拟合(MSF)等校正方法进行干扰消除,通过对3种校正方法的比较,建立了MSF-电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP-AES)测定高纯镍中痕量钴的分析方法。确定了最优仪器参数为:射频功率1350W,雾化器流速0.5L/min,观测距离15mm,蠕动泵泵速1.0mL/min。应用基体匹配、标准加入和MSF3种校正方法分别测定了加标高纯镍溶液,当钴加标浓度为0.10和0.20mg/L、镍浓度为5g/L时,3种方法均得到较高的回收率(95.0%~102.0%),线性相关系数均大于0.9996,RSD在2.1%~4.6%之间,其中MSF法的线性范围最宽(0.02~0.5mg/L),检出限最低(0.002mg/L);当钴加标浓度分别为0.02和0.06mg/L、镍浓度为15g/L时,只有MSF法能够得到准确的结果,线性相关系数为0.9999,线性范围为0.02~0.10mg/L,检出限为0.002mg/L,回收率为95.0%~105.0%,RSD在3.9%~4.6%之间。采用MSF法测试实际样品的分析结果为0.000154%,与辉光放电质谱(GD-MS)法的结果(0.000149%)基本一致,进一步验证了方法的准确性和精密性。MSF法不仅抗干扰能力强、操作简便、经济实用,且精密度高、检出限低,测量下限(0.0001%)和范围均优于国标原子吸收光谱法(0.001%),为高纯样品中痕量杂质元素的测定提供了重要的方法学手段。
语种	英语
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.ipe.ac.cn/handle/122111/35387]
专题	中国科学院过程工程研究所
作者单位	中国科学院过程工程研究所
推荐引用方式 GB/T 7714	严子心,曲景奎,余志辉,等. 多谱线拟合电感耦合等离子体原子发射光谱法测定高纯镍中痕量钴[J]. 分析化学,2019,047(003):423.
APA	严子心,曲景奎,余志辉,宋静,&魏广叶.(2019).多谱线拟合电感耦合等离子体原子发射光谱法测定高纯镍中痕量钴.分析化学,047(003),423.
MLA	严子心,et al."多谱线拟合电感耦合等离子体原子发射光谱法测定高纯镍中痕量钴".分析化学 047.003(2019):423.