| 题名 | 基于MicroTCA架构的束损探测器AMC DIO板卡设计 |
| 作者 | 周舜民 |
| 答辩日期 | 2019-06-01 |
| 文献子类 | 硕士 |
| 授予单位 | 中国科学院大学(中国科学院近代物理研究所) |
| 授予地点 | 中国科学院大学 |
| 英文摘要 | 随着加速器产生的实验事例数量越来越大,对数据传输的速度和实时性要求也越来越高,以往基于VXI、VME、PXI等背板总线已无法满足其需求。而通信领域的MicroTCA(Micro Telecommunications Computing Architecture)系统架构则能很好的解决关于大数据量和高速传输的问题。目前在加速器领域MicroTCA的应用越来越多,新一代的FAIR(反质子与离子研究设施,Facility for Antiproton and Ion Research)、XFEL(X-ray Free Electron Laser)、日本第三代同步辐射装置Spring-8及SLAC、ANL等研究所的加速器装置都采用了MicroTCA系统。HIAF(High Intensity Heavy-ion Accelerator Facility)装置也拟采用MicroTCA系统实现束损探测系统的数据采集和控制。论文根据束诊束损探测系统的实际需求设计了首款符合MicroTCA.0和AMC.0规范标准的具备光纤收发模块、基于FPGA处理的带DDR2存储和PCIE高速总线传输和符合IPMI(Intelligent Platform Management Interface)协议、IPMB(Intelligent Platform Management Bus)总线协议的AMC(Advanced Mezzanine Card)模块DIO板卡。板卡包括基于FPGA实现的功能模块和基于STM32 ARM内核单片机实现的板卡管理模块两部分。FPGA模块实现相关数据处理、传输、存储等功能,设计了可移植到不同平台的通用二次封装DDR2逻辑接口以及DMA传输方式的PCIE数据传输;STM32 ARM内核单片机的板卡管理程序,实现板卡的FRU状态转化和上下电流程控制,设计定义相关FRU信息的数据结构体和IPMI协议的响应数据结构体,通过温度传感器进行板卡健康状态监控,并将相关FRU信息写入EEPROM并读取传输。经测试,板上供电电压误差都在官方给定范围内,除DDR2参考电压误差为6.5%(官方10%),其他误差保持在1.2%(官方2%)以内;温度监控精度处理为0.5℃/℉;DDR2最高可在700Mhz下进行数据读写操作;FPGA和STM32在115200bps下能正确稳定通信。测试结果表明,束损AMC DIO板卡FPGA系统、STM32系统能够正常稳定工作,实现了对数据的读取、传输、处理存储控制及板卡健康状态的监控、FRU信息传输读取等功能。说明设计的首款基于MicroTCA系统的束损AMC DIO板卡达到了设计要求。 |
| 语种 | 中文 |
| 页码 | 96 |
| 内容类型 | 学位论文 |
| 源URL | [http://119.78.100.186/handle/113462/134972]  |
| 专题 | 先进核能中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 周舜民. 基于MicroTCA架构的束损探测器AMC DIO板卡设计[D]. 中国科学院大学. 中国科学院大学(中国科学院近代物理研究所). 2019. |
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