| 一种有效降低扫描结构测试功耗的方法 | |
| 易守军; 吴超; 肖雄; 刘露; 樊祯; 陈金华 | |
| 刊名 | 湖南大学学报(自然科学版)
 |
| 2009 | |
| 卷号 | 第12期页码:P45-48 |
| 关键词 | 扫描测试 测试向量 组合逻辑电路 动态功耗 |
| ISSN号 | 1674-2974 |
| URL标识 | 查看原文 |
| 公开日期 | [db:dc_date_available] |
| 内容类型 | 期刊论文 |
| URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/6687217 |
| 专题 | 湖南大学 |
| 作者单位 | 1.湖南大学物理与微电子科学学院,湖南,长沙,410082/ 2.湖南大学,物理与微电子科学学院,湖南,长沙,410082/ 3.中国科学院计算技术研究所,北京,100190 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 易守军,吴超,肖雄,等. 一种有效降低扫描结构测试功耗的方法[J]. 湖南大学学报(自然科学版),2009,第12期:P45-48. |
| APA | 易守军,吴超,肖雄,刘露,樊祯,&陈金华.(2009).一种有效降低扫描结构测试功耗的方法.湖南大学学报(自然科学版),第12期,P45-48. |
| MLA | 易守军,et al."一种有效降低扫描结构测试功耗的方法".湖南大学学报(自然科学版) 第12期(2009):P45-48. |
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