QQ客服 官方微博 反馈留言

	Electro-Migration Model Parameters Sensitivity Analysis Based on the Monte Carlo Method
	Feng, Wenquan; Wang, Lin; Zhou, Gan; Zhang, Dong; Gu, Hantian
	2013
会议名称	4th IEEE Conference on Prognostics and System Health Management (PHM)
会议日期	2013-01-01
会议地点	Milan, ITALY
卷号	33
页码	1093-1098
收录类别	EI ; CPCI-S
URL标识	查看原文
WOS记录号	WOS:000337960300181
内容类型	会议论文
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/6565186
专题	北京航空航天大学
推荐引用方式 GB/T 7714	Feng, Wenquan,Wang, Lin,Zhou, Gan,et al. Electro-Migration Model Parameters Sensitivity Analysis Based on the Monte Carlo Method[C]. 见:4th IEEE Conference on Prognostics and System Health Management (PHM). Milan, ITALY. 2013-01-01.

个性服务

查看访问统计

相关权益政策

暂无数据

收藏/分享

除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。