| 测量Ga_(0.95)Mn_(0.05)As薄膜材料磁学性质的实验系统——基于反常霍尔效应和表面磁光克尔效应 | |
| 蒋笑寒; 陈宜保; 梁昌林; 来旭波; 张留碗 | |
| 刊名 | 物理教学
 |
| 2015 | |
| 页码 | 2-7 |
| 关键词 | 半导体自旋电子学 稀磁半导体 Ga_(0.95)Mn_(0.05)As薄膜 反常霍尔效应 磁光克尔效应 |
| ISSN号 | 1002-0748 |
| URL标识 | 查看原文 |
| 内容类型 | 期刊论文 |
| URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/6542863 |
| 专题 | 北京航空航天大学 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 蒋笑寒,陈宜保,梁昌林,等. 测量Ga_(0.95)Mn_(0.05)As薄膜材料磁学性质的实验系统——基于反常霍尔效应和表面磁光克尔效应[J]. 物理教学,2015:2-7. |
| APA | 蒋笑寒,陈宜保,梁昌林,来旭波,&张留碗.(2015).测量Ga_(0.95)Mn_(0.05)As薄膜材料磁学性质的实验系统——基于反常霍尔效应和表面磁光克尔效应.物理教学,2-7. |
| MLA | 蒋笑寒,et al."测量Ga_(0.95)Mn_(0.05)As薄膜材料磁学性质的实验系统——基于反常霍尔效应和表面磁光克尔效应".物理教学 (2015):2-7. |
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