| From Device to System: Cross-layer Design Exploration of Racetrack Memory | |
| Sun, Guangyu; Zhang, Chao; Li, Hehe; Zhang, Yue; Zhang, Weiqi; Gu, Yizi; Sun, Yinan; Klein, J.O.; Ravelosona, D.; Liu, Yongpan | |
| 2015 | |
| 会议名称 | Conference on Design Automation Test in Europe (DATE) |
| 会议日期 | 2015-03-09 |
| 会议地点 | Alpexpo Congress Center, Grenoble, FRANCE |
| 卷号 | 2015-April |
| 页码 | 1018-1023 |
| 收录类别 | EI ; CPCI-S |
| URL标识 | 查看原文 |
| WOS记录号 | WOS:000380393200191 |
| 内容类型 | 会议论文 |
| URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/6535400 |
| 专题 | 北京航空航天大学 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Sun, Guangyu,Zhang, Chao,Li, Hehe,et al. From Device to System: Cross-layer Design Exploration of Racetrack Memory[C]. 见:Conference on Design Automation Test in Europe (DATE). Alpexpo Congress Center, Grenoble, FRANCE. 2015-03-09. |
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