Epitaxial growth of Ni(Al)Si0.7Ge0.3 on Si0.7Ge0.3/Si(100) by Al interlayer mediated epitaxy
Zhang, B ; Yu, W ; Zhao, QT ; Mussler, G ; Jin, L ; Buca, D ; Hollander, B ; Hartmann, JM ; Zhang, M(重点实验室) ; Wang, X(重点实验室) ; Mantl, S
刊名APPLIED PHYSICS LETTERS
2011
卷号98期号:25页码:252101
关键词Physics Applied
ISSN号0003-6951
学科主题Physics
收录类别SCI
原文出处10.1063/1.3601464
语种英语
公开日期2013-05-10
内容类型期刊论文
源URL[http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/115128]  
专题上海微系统与信息技术研究所_信息功能材料国家重点实验室2008-2012_期刊论文
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GB/T 7714
Zhang, B,Yu, W,Zhao, QT,et al. Epitaxial growth of Ni(Al)Si0.7Ge0.3 on Si0.7Ge0.3/Si(100) by Al interlayer mediated epitaxy[J]. APPLIED PHYSICS LETTERS,2011,98(25):252101.
APA Zhang, B.,Yu, W.,Zhao, QT.,Mussler, G.,Jin, L.,...&Mantl, S.(2011).Epitaxial growth of Ni(Al)Si0.7Ge0.3 on Si0.7Ge0.3/Si(100) by Al interlayer mediated epitaxy.APPLIED PHYSICS LETTERS,98(25),252101.
MLA Zhang, B,et al."Epitaxial growth of Ni(Al)Si0.7Ge0.3 on Si0.7Ge0.3/Si(100) by Al interlayer mediated epitaxy".APPLIED PHYSICS LETTERS 98.25(2011):252101.
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