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	Electronics of Time-of-Flight Measurement for Back-n at CSNS
	Yu, T.; Cao, P.; Ji, X. Y.; Xie, L. K.; Huang, X. R.; An, Q.; Bai, H. Y.; Bao, J.; Chen, Y. H.; Cheng, P. J.
	2019
会议名称	IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE
会议日期	2019-07-01
关键词	Nuclear electronics time stamp time-of-flight (TOF) measurement
卷号	66
页码	1095-1099
收录类别	CPCI-S
URL标识	查看原文
WOS记录号	WOS:000476781000020
内容类型	会议论文
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/5914310
专题	北京航空航天大学
推荐引用方式 GB/T 7714	Yu, T.,Cao, P.,Ji, X. Y.,et al. Electronics of Time-of-Flight Measurement for Back-n at CSNS[C]. 见:IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE. 2019-07-01.

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