| 半导体激光器测试系统 | |
| 张丽雯; 陆耀东; 王涛; 任奕奕; 宋金鹏; 张玉莹 | |
| 2018-04-17 | |
| 著作权人 | 北京光电技术研究所 |
| 专利号 | CN104880298B |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 授权发明 |
| 其他题名 | 半导体激光器测试系统 |
| 英文摘要 | 本发明提供一种半导体激光器测试系统，包括多台测试仪、控制主机、测试仪电源线、测试仪供电电源、半导体激光器电源线和数据总线；每台测试仪与每个被测半导体激光器一一对应；每台测试仪通过数据总线与控制主机连接，通过测试仪电源线与测试仪供电电源连接，半导体激光器的电源受测试仪控制；测试仪包括处理器、存储器、功率传感器、电压传感器、电流传感器、温度传感器和制冷设备；处理器接收到控制主机发送的测试指令后断开与数据总线的电连接，控制上述各传感器进行参数数据采集，将参数数据处理结果存储在存储器中，实现了同时对多台半导体激光器的工作稳定性的高效、全面准确测试，且离线测试保证了长期测试过程中数据的安全可靠。 |
| 公开日期 | 2018-04-17 |
| 申请日期 | 2015-05-15 |
| 状态 | 授权 |
| 内容类型 | 专利 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/40711]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 北京光电技术研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 张丽雯,陆耀东,王涛,等. 半导体激光器测试系统. CN104880298B. 2018-04-17. |
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