用于提高自准直仪测量精度的光源频率调制系统

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	用于提高自准直仪测量精度的光源频率调制系统
	昌明 ; 赵建科; 刘峰 ; 郭梁 ; 乔卫东 ; 曹昆 ; 薛勋 ; 李晶 ; 李跃 ; 巩立
	2019-08-27
著作权人	中国科学院西安光学精密机械研究所 ; 西安理工大学
专利号	CN201822267801.0
国家	中国
文献子类	实用新型
产权排序	1
英文摘要	本实用新型公开的用于提高自准直仪测量精度的光源频率调制系统，包括频率发生装置，频率发生装置用于发出3路频率相同、占空比和延时分别可调的脉冲频率源，1路用于对自准直仪的激光光源进行频率调制；1路用于对PSD器件背景光产生的光电信号进行采样保持；1路用于对PSD器件脉冲光产生的光电信号进行采样保持。本实用新型还公开了光源调制方法，通过控制采样时机，获取稳定的光电信号，为后续处理电路提供正确可信的信号。本实用新型公开的系统在仪器研制期间可灵活更改，并且，具有延时可调功能，避免了错误信号的混入，进而提高测量精度。
公开日期	2019-08-27
申请日期	2018-12-29
语种	中文
状态	已授权
内容类型	专利
源URL	[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/31969]
专题	西安光学精密机械研究所_检测技术研究中心
作者单位	1.西安理工大学 2.中国科学院西安光学精密机械研究所
推荐引用方式 GB/T 7714	昌明,赵建科,刘峰,等. 用于提高自准直仪测量精度的光源频率调制系统. CN201822267801.0. 2019-08-27.