| Failure modes and mechanism analysis of SiC MOSFET under short-circuit conditions | |
| Jiang, Xi; Wang, Jun; Lu, Jiwu; Chen, Jianjun; Yang, Xin; Li, Zongjian; Tu, Chunming; Shen, Z. John | |
| 会议名称 | MICROELECTRONICS RELIABILITY |
| 会议日期 | 2018 |
| 会议地点 | 593-597 |
| 关键词 | SiC MOSFET Short-circuit Failure analysis |
| 会议录 | Vol.88-90
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| URL标识 | 查看原文 |
| 内容类型 | 会议论文 |
| URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/4754375 |
| 专题 | 湖南大学 |
| 作者单位 | 1.Hunan Univ, Coll Elect & Informat Engn, Changsha, Hunan, Peoples R China 2.IIT, Chicago, IL 60616 USA |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Jiang, Xi,Wang, Jun,Lu, Jiwu,et al. Failure modes and mechanism analysis of SiC MOSFET under short-circuit conditions[C]. 见:MICROELECTRONICS RELIABILITY. 593-597. 2018. |
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