Damage in hydrogen plasma implanted silicon | |
Wang, LW ; Fu, RKY ; Zeng, X ; Chu, PK ; Cheung, WY ; Wong, SP | |
刊名 | JOURNAL OF APPLIED PHYSICS |
2001 | |
卷号 | 90期号:4页码:1735-1739 |
关键词 | IMMERSION ION-IMPLANTATION |
ISSN号 | 0021-8979 |
通讯作者 | Chu, PK, City Univ Hong Kong, Dept Phys & Mat Sci, Tat Chee Ave, Kowlong, Hong Kong, Peoples R China |
学科主题 | Physics, Applied |
收录类别 | SCI |
语种 | 英语 |
公开日期 | 2012-03-24 |
内容类型 | 期刊论文 |
源URL | [http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/95704] |
专题 | 上海微系统与信息技术研究所_功能材料与器件_期刊论文 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | Wang, LW,Fu, RKY,Zeng, X,et al. Damage in hydrogen plasma implanted silicon[J]. JOURNAL OF APPLIED PHYSICS,2001,90(4):1735-1739. |
APA | Wang, LW,Fu, RKY,Zeng, X,Chu, PK,Cheung, WY,&Wong, SP.(2001).Damage in hydrogen plasma implanted silicon.JOURNAL OF APPLIED PHYSICS,90(4),1735-1739. |
MLA | Wang, LW,et al."Damage in hydrogen plasma implanted silicon".JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 90.4(2001):1735-1739. |
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