Silicon-on-insulating multi-layers for total-dose irradiation hardness | |
Zhang, EX ; Yi, WB ; Liu, XH ; Chen, M ; Liu, ZL ; Xi, W | |
刊名 | CHINESE PHYSICS LETTERS |
2004 | |
卷号 | 21期号:8页码:1600-1603 |
关键词 | IMPLANTATION OXIDES SIMOX |
ISSN号 | 0256-307X |
通讯作者 | Zhang, EX, Chinese Acad Sci, Shanghai Inst Microsyst & Informat Technol, Ion Beam Lab, Shanghai 200050, Peoples R China |
学科主题 | Physics, Multidisciplinary |
收录类别 | SCI |
语种 | 英语 |
公开日期 | 2012-03-24 |
内容类型 | 期刊论文 |
源URL | [http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/95385] |
专题 | 上海微系统与信息技术研究所_功能材料与器件_期刊论文 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | Zhang, EX,Yi, WB,Liu, XH,et al. Silicon-on-insulating multi-layers for total-dose irradiation hardness[J]. CHINESE PHYSICS LETTERS,2004,21(8):1600-1603. |
APA | Zhang, EX,Yi, WB,Liu, XH,Chen, M,Liu, ZL,&Xi, W.(2004).Silicon-on-insulating multi-layers for total-dose irradiation hardness.CHINESE PHYSICS LETTERS,21(8),1600-1603. |
MLA | Zhang, EX,et al."Silicon-on-insulating multi-layers for total-dose irradiation hardness".CHINESE PHYSICS LETTERS 21.8(2004):1600-1603. |
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