| 气体密度精密检测与控制的方法及其装置 | |
| 顾福元 ; 唐和森 ; 宫一中 | |
| 2002-09-11 | |
| 专利国别 | 中国 |
| 专利号 | 9.71072485E7 |
| 专利类型 | 发明 |
| 权利人 | 中国科学院紫金山天文台 |
| 中文摘要 | 气体密度精密检测与控制的方法及其装置;在标准温度下对密封的标准容器充以定量气体;用压力传感器分别测出标准容器与被测容器的压力,将两个压力值进行比较,即得到气体密度值。用该数值控制阀门,即实现自动控制。其装置是在标准容器与被测容器处分别设置压力传感器,其输出接放大电路,两个放大电路同时接比较电路,再接控制电路。本发明能够排除温度变化对测量结果的影响,实现了气体密度的精密测量与自动控制。 |
| 公开日期 | 1998-07-15 |
| 申请日期 | 1997-12-30 |
| 语种 | 中文 |
| 专利证书号 | 第92222号 |
| 专利申请号 | 9.71072485E7 |
| 专利代理 | 栗仲平 |
| 内容类型 | 专利 |
| 源URL | [http://libir.pmo.ac.cn/handle/332002/1357]  |
| 专题 | 紫金山天文台_中科院紫金山天文台专利 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 顾福元,唐和森,宫一中. 气体密度精密检测与控制的方法及其装置. 9.71072485E7. 2002-09-11. |
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