新结构InGaP/GaAs/InGaP DHBT生长及特性研究
艾立鹍 ; 徐安怀 ; 孙浩 ; 朱福英 ; 齐鸣
刊名固体电子学研究与进展
2010
期号01
关键词酶联免疫吸附测定 肿瘤抑制蛋白质p53 辣根过氧化物酶 金属纳米粒子 生物传感技术
ISSN号1000-3819
中文摘要设计并生长了一种新的InGaP/GaAs/InGaP DHBT结构材料,采用在基区和集电区之间插入n+-InGaP插入层结构,以解决InGaP/GaAs/InGaP DHBT集电结导带尖峰的电子阻挡效应问题。采用气态源分子束外延(GSMBE)技术,通过优化生长条件,获得了高质量外延材料,成功地生长出带有n+-InGaP插入层结构的GaAs基InGaP/GaAs/InGaP DHBT结构材料。采用常规的湿法腐蚀工艺,研制出发射极面积为100μm×100μm的新型结构InGaP/GaAs/InGaP DHBT
语种中文
公开日期2012-01-06
内容类型期刊论文
源URL[http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/52599]  
专题上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文
推荐引用方式
GB/T 7714
艾立鹍,徐安怀,孙浩,等. 新结构InGaP/GaAs/InGaP DHBT生长及特性研究[J]. 固体电子学研究与进展,2010(01).
APA 艾立鹍,徐安怀,孙浩,朱福英,&齐鸣.(2010).新结构InGaP/GaAs/InGaP DHBT生长及特性研究.固体电子学研究与进展(01).
MLA 艾立鹍,et al."新结构InGaP/GaAs/InGaP DHBT生长及特性研究".固体电子学研究与进展 .01(2010).
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