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	Effects of stress-loading test methods on the degradation of light-emitting diode modules
	Cai, Miao[1]; Yang, Daoguo[1]; Zheng, Jianna[1]; Huang, Jianlin[2]; Liu, Dongjing[1]; Xiao, Jing[1]; Zhang, Ping[1]; Zhang, Guoqi[1,2]; Chen, Xianping[3]
会议日期	SEP 19-22, 2016
会议地点	Halle, GERMANY
URL标识	查看原文
内容类型	会议论文
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/3178683
专题	重庆大学
推荐引用方式 GB/T 7714	Cai, Miao[1],Yang, Daoguo[1],Zheng, Jianna[1],et al. Effects of stress-loading test methods on the degradation of light-emitting diode modules[C]. 见:. Halle, GERMANY. SEP 19-22, 2016.

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