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	一种计及内部材料疲劳寿命的压接式IGBT器件可靠性计算方法
	李辉[1]; 邓吉利[1]; 姚然[1]; 赖伟[1]; 郑媚媚[1]; 龙海洋[1]; 何蓓[1]; 李金元[1]; 李尧圣[1]
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内容类型	专利
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/3072460
专题	重庆大学
推荐引用方式 GB/T 7714	李辉[1],邓吉利[1],姚然[1],等. 一种计及内部材料疲劳寿命的压接式IGBT器件可靠性计算方法.

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