Photocatalytic degradation characteristic of amorphous TiO2-W thin films deposited by magnetron sputtering | |
Huang, JM; Li, YX; Zhao, GD; Cai, XP | |
会议日期 | JUN 14-17, 2006 |
会议地点 | Zhangxiajie, PEOPLES R CHINA |
URL标识 | 查看原文 |
内容类型 | 会议论文 |
URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/2974146 |
专题 | 重庆大学 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | Huang, JM,Li, YX,Zhao, GD,et al. Photocatalytic degradation characteristic of amorphous TiO2-W thin films deposited by magnetron sputtering[C]. 见:. Zhangxiajie, PEOPLES R CHINA. JUN 14-17, 2006. |
个性服务 |
查看访问统计 |
相关权益政策 |
暂无数据 |
收藏/分享 |
除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。
修改评论