| An Effective Method to Compensate Total Ionizing Dose-Induced Degradation on Double-SOI Structure | |
| Huang, Yang; Li, Binhong; Zhao, Xing; Zheng, Zhongshan; Gao, Jiantou; Zhang, Gang; Li, Bo; Zhang, Guohe; Tang, Kai; Han, Zhengsheng | |
| 2018 | |
| 关键词 | Coupling effect double SOI (DSOI) negative back-gate bias total ionizing dose (TID) |
| 卷号 | 65 |
| 页码 | 1532-1539 |
| 会议录 | IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE
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| URL标识 | 查看原文 |
| ISSN号 | 0018-9499 |
| 内容类型 | 会议论文 |
| URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/2917289 |
| 专题 | 西安交通大学 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Huang, Yang,Li, Binhong,Zhao, Xing,et al. An Effective Method to Compensate Total Ionizing Dose-Induced Degradation on Double-SOI Structure[C]. 见:. |
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