一种金属薄膜溅射的PVD工艺
高建峰; 唐兆云; 殷华湘; 李俊峰; 赵超
2018-12-04
著作权人中国科学院微电子研究所
专利号CN201510375208.6
国家中国
文献子类发明专利
英文摘要

本发明提供了一种金属薄膜溅射的PVD设备及工艺,所述设备包括:与射频电源相连接的靶材、基座及侧置线圈,所述靶材以可自转的形式安装在溅射腔室的顶部,所述基座位于溅射腔室的底部,所述侧置线圈位于溅射腔室的侧壁,靶材与侧置线圈施加射频电源共同作用于惰性气体,产生等离子体。由于该设备增加了侧置线圈及与其相连接的射频电源,并通过调节惰性气体压力,提高了等离子体密度,结合PVD溅射的其他工艺参数,能形成电学性能良好,并且在沟槽表面覆盖效果良好的薄膜,可延续溅射沉积工艺应用到22纳米及以下技术的后栅工艺中。

公开日期2017-01-11
申请日期2015-06-30
语种中文
内容类型专利
源URL[http://159.226.55.107/handle/172511/18870]  
专题微电子研究所_集成电路先导工艺研发中心
作者单位中国科学院微电子研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
高建峰,唐兆云,殷华湘,等. 一种金属薄膜溅射的PVD工艺. CN201510375208.6. 2018-12-04.
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