CORC  > 微电子研究所  > 中国科学院微电子研究所  > EDA中心
A chip-scale chemical mechanical planarization model for copper interconnect structures
Xu QZ(徐勤志); Fang JJ(方晶晶); Chen L(陈岚)
刊名Microelectronic Engineering
2015-09-05
公开日期2016-06-02
内容类型期刊论文
源URL[http://10.10.10.126/handle/311049/15131]  
专题微电子研究所_EDA中心
作者单位中国科学院微电子研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
Xu QZ,Fang JJ,Chen L. A chip-scale chemical mechanical planarization model for copper interconnect structures[J]. Microelectronic Engineering,2015.
APA Xu QZ,Fang JJ,&Chen L.(2015).A chip-scale chemical mechanical planarization model for copper interconnect structures.Microelectronic Engineering.
MLA Xu QZ,et al."A chip-scale chemical mechanical planarization model for copper interconnect structures".Microelectronic Engineering (2015).
个性服务
查看访问统计
相关权益政策
暂无数据
收藏/分享
所有评论 (0)
暂无评论
 

除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。


©版权所有 ©2017 CSpace - Powered by CSpace