应用于不同类型FPGA的多模式调试系统

doi:10.3969/j.issn.1001-0548.2014.05.009

CORC > 北京大学 > 信息科学技术学院

	应用于不同类型FPGA的多模式调试系统
	李文昌 ; 万理 ; 阮爱武 ; 宋子健 ; 于敦山
刊名	电子科技大学学报
	2014
关键词	调试现场可编程门阵列可视性 Scan模式 Snapshot模式
DOI	10.3969/j.issn.1001-0548.2014.05.009
英文摘要	随着超大规模集成电路(VLSI)以及片上系统(SoC)设计的日益复杂,基于现场可编程门阵列(FPGA)的硬件仿效成为了必要环节。为解决逻辑设计下载到基于FPGA的硬件仿效器后内部节点不可视的问题,提出一种调试系统,该调试系统使用了RTL级植入调试逻辑的调试方法,统一的用户界面和软件侧底层接口,并提供了ELA模式、Scan模式和Snapshot模式。所有模式均使用统一的外部接口,使得调试系统同时适用于Altera和Xilinx的FPGA。实验结果表明,与SignalTap和ChipScope模式相比,ELA模式消耗几乎相同的资源,而Scan模式和Snapshot模式会消耗更少的FPGA资源。; EI; 中文核心期刊要目总览(PKU); 中国科技核心期刊(ISTIC); 中国科学引文数据库(CSCD); 0
语种	中文
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.pku.edu.cn/handle/20.500.11897/22647]
专题	信息科学技术学院
推荐引用方式 GB/T 7714	李文昌,万理,阮爱武,等. 应用于不同类型FPGA的多模式调试系统[J]. 电子科技大学学报,2014.
APA	李文昌,万理,阮爱武,宋子健,&于敦山.(2014).应用于不同类型FPGA的多模式调试系统.电子科技大学学报.
MLA	李文昌,et al."应用于不同类型FPGA的多模式调试系统".电子科技大学学报 (2014).