| 表面分析新方法--变角XPS(VAXPS),表面扩展电子能量损失精细结构谱(SEELFS)和同步辐射(SR)等在单层和自组装纳米薄膜等表面过程和结构分析中的应用 | |
| 吴念祖 ; 黄惠忠 ; 黄小华 ; 于小峰 ; 徐维明 | |
| 2015 | |
| 关键词 | VAXPS SR SEELFS 纳米薄膜 自组装 变角 表面过程 同步辐射 结构分析 键长 |
| 英文摘要 | 1.表面分析新方法在自组装纳米薄膜和新型催化剂等体系的组成、化学键合、空间构型和原子键长的测试等方面的应用在基础研究中,获奖者首次成功地应用XPS测定了有机物在活性炭载体上自发单层分散效应,拓展和丰富了有关单层分散机制的研究。变角XPS(VAXPS)有时称角分解XPS(ARXPS),有时也称角扫描XPS(ASXPS)。传统XPS测试的; 2 |
| 语种 | 中文 |
| 内容类型 | 其他 |
| 源URL | [http://ir.pku.edu.cn/handle/20.500.11897/445781]  |
| 专题 | 化学与分子工程学院 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 吴念祖,黄惠忠,黄小华,等. 表面分析新方法--变角XPS(VAXPS),表面扩展电子能量损失精细结构谱(SEELFS)和同步辐射(SR)等在单层和自组装纳米薄膜等表面过程和结构分析中的应用. 2015-01-01. |
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