一种多功能反射式磁光光谱测量系统

	一种多功能反射式磁光光谱测量系统; 一种多功能反射式磁光光谱测量系统
	朱汇; 刘剑
专利国别	中国
专利号	CN201010143096.9
专利类型	发明
权利人	中国科学院半导体研究所
中文摘要	本发明公开了一种多功能反射式磁光光谱测量系统，使用超连续白光光源、光栅单色仪、若干偏振镜片、光弹调制器、宽带1/4与1/2波片、消偏振分光棱镜(NPBS)、单端与差分探测器以及OXFORD低温超导磁体系统，组成结构灵活可变的光谱探测系统，可以在同一光路上实现反射式磁圆二向色性(MCD)、极向磁光克尔效应、偏振反射光谱以及磁线二向色性(MLD)的测量。该系统灵敏度高，可用于基础物理研究、材料特性分析和偏振调制光通信等诸多领域。
公开日期	2011-08-30
语种	中文
专利申请号	CN201010143096.9
专利代理	周国城
内容类型	专利
源URL	[http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/21835]
专题	半导体研究所_半导体超晶格国家重点实验室
推荐引用方式 GB/T 7714	朱汇,刘剑. 一种多功能反射式磁光光谱测量系统, 一种多功能反射式磁光光谱测量系统. CN201010143096.9.