一种提高低温光致发光测试精度的实验方法

	一种提高低温光致发光测试精度的实验方法
	艾尔肯·阿不都瓦衣提; 雷琪琪; 莫敏·塞来; 马丽娅·黑尼; 赵晓凡; 慎小宝; 许焱; 李豫东; 郭旗
	2019-01-11
著作权人	中国科学院新疆理化技术研究所
文献子类	发明专利
英文摘要	本发明属于光电器件测试技术领域，涉及一种提高低温光致发光测试精度的实验方法；该方法中涉及装置是由真空罩、防热辐射屏、待测样品、样品架、凸透镜、滤光片、单色仪、入射激光、光致发光、反射激光和探测器组成，利用防热辐射屏出射角大于90度的出射窗口收集待测样品发出的光致发光，从而达到提高光致发光测试精度的目的。本发明具有操作简单、效率高、提高测试精度、节省测试时间等特点。
申请日期	2018-10-24
内容类型	专利
源URL	[http://ir.xjipc.cas.cn/handle/365002/6374]
专题	固体辐射物理研究室
推荐引用方式 GB/T 7714	艾尔肯·阿不都瓦衣提,雷琪琪,莫敏·塞来,等. 一种提高低温光致发光测试精度的实验方法. 2019-01-11.