题名 | 总剂量辐射环境下微纳器件长期可靠性退化机理探究 |
作者 | 赵京昊 |
答辩日期 | 2019-05-28 |
授予单位 | 中国科学院大学 |
授予地点 | 北京 |
导师 | 余学峰 |
关键词 | 电离总剂量辐射 热载流子效应 栅氧经时击穿 负偏置温度不稳定性 |
学位名称 | 硕士 |
学位专业 | 材料工程 |
内容类型 | 学位论文 |
源URL | [http://ir.xjipc.cas.cn/handle/365002/5988] |
专题 | 固体辐射物理研究室 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 赵京昊. 总剂量辐射环境下微纳器件长期可靠性退化机理探究[D]. 北京. 中国科学院大学. 2019. |
个性服务 |
查看访问统计 |
相关权益政策 |
暂无数据 |
收藏/分享 |
除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。
修改评论