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	GaN基白光LED可靠性研究与失效分析
	宋嘉良[1]; 文尚胜[1] 马丙戌[1] 符民[1] 胡捷频[1] 彭星[2] 方方[3] 廖少雄[4]; 康丽娟[5]
刊名	《发光学报》
	2018
卷号	39页码:1705-1713
关键词	LED 可靠性分析 电极 芯片 封装
URL标识	查看原文
内容类型	期刊论文
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/2166079
专题	华南理工大学
作者单位	1.[1]华南理工大学发光材料与器件国家重点实验室,广东广州510640 2.[2]复旦大学上海超精密光学制造工程技术研究中心,上海200433 [3]广东金鉴检测科技有限公司,广东广州511300 [4]广州虎辉照明科技公司,广东广州510170 3.[5]华南师范大学美术学院,广东广州510631
推荐引用方式 GB/T 7714	宋嘉良[1],文尚胜[1] 马丙戌[1] 符民[1] 胡捷频[1] 彭星[2] 方方[3] 廖少雄[4],康丽娟[5]. GaN基白光LED可靠性研究与失效分析[J]. 《发光学报》,2018,39:1705-1713.
APA	宋嘉良[1],文尚胜[1] 马丙戌[1] 符民[1] 胡捷频[1] 彭星[2] 方方[3] 廖少雄[4],&康丽娟[5].(2018).GaN基白光LED可靠性研究与失效分析.《发光学报》,39,1705-1713.
MLA	宋嘉良[1],et al."GaN基白光LED可靠性研究与失效分析".《发光学报》 39(2018):1705-1713.

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