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	光电耦合器件低频噪声特性与可靠性老化研究
	余永涛[1] 王之哲[1] 郭长荣[2]; 刘焱[1]; 罗宏伟[1]; 王小强[1]; 罗军[1] 陈勇国[1]
刊名	《半导体光电》
	2018
卷号	39页码:192-196
关键词	光电耦合器件 低频噪声检测 功率老化 高温老化 可靠性
URL标识	查看原文
内容类型	期刊论文
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/2164885
专题	华南理工大学
作者单位	1.[1]工业和信息化部电子第五研究所,广州510610 2.[2]华南理工大学,广州510641
推荐引用方式 GB/T 7714	余永涛[1] 王之哲[1] 郭长荣[2],刘焱[1],罗宏伟[1],等. 光电耦合器件低频噪声特性与可靠性老化研究[J]. 《半导体光电》,2018,39:192-196.
APA	余永涛[1] 王之哲[1] 郭长荣[2],刘焱[1],罗宏伟[1],王小强[1],&罗军[1] 陈勇国[1].(2018).光电耦合器件低频噪声特性与可靠性老化研究.《半导体光电》,39,192-196.
MLA	余永涛[1] 王之哲[1] 郭长荣[2],et al."光电耦合器件低频噪声特性与可靠性老化研究".《半导体光电》 39(2018):192-196.

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