| 二维扫描型光学质量检测装置; 二维扫描型光学质量检测装置 | |
| 黄惠杰 ; 闫岩 ; 刘丹 ; 任冰强 ; 赵永凯 ; 黄立华 ; 张维新 | |
| 2005-12-28 | |
| 专利国别 | 中国 |
| 专利号 | ZL200420110960.5 |
| 专利类型 | 实用新型 |
| 权利人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 中文摘要 | 一种用于透镜光学质量检测的二维扫描型光学质量检测装置，由照明系统、光束扫描机构、被检透镜、图像接受系统以及系统控制与数据处理软件组成，其特征在于：所述的照明系统是一输出光束口径可调的准直光源；所述的光束扫描机构由圆形屏、第一步进电机、一维电动调整架和支架组成；所述的图像接受系统包括CCD摄像机、导轨、第二步进电机、支架和计算机，所述的计算机与第一步进电机、第二步进电机、第三步进电机和CCD摄像机通过信号线相连。本实用新型能对被检透镜进行全面检测，可以得到被检透镜的局部误差。采样光束口径大小可以随意调节。检 |
| 公开日期 | 2011-07-14 ; 2011-07-15 |
| 申请日期 | 2004-11-17 |
| 收录类别 | 专利 |
| 语种 | 中文 |
| 专利申请号 | CN200420110960.5 |
| 内容类型 | 专利 |
| 源URL | [http://ir.siom.ac.cn/handle/181231/9864]  |
| 专题 | 上海光学精密机械研究所_精密光电测控研究与发展中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 黄惠杰,闫岩,刘丹,等. 二维扫描型光学质量检测装置, 二维扫描型光学质量检测装置. ZL200420110960.5. 2005-12-28. |
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