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	Automatic Optical Defect Inspection and dimension measurement of drill bit (CPCI-S收录)
	Zhang, W. J.[1]; Li, D.[1]; Ye, F.[1]; Sun, H.[1]
会议名称	IEEE ICMA 2006: PROCEEDING OF THE 2006 IEEE INTERNATIONAL CONFERENCE ON MECHATRONICS AND AUTOMATION, VOLS 1-3, PROCEEDINGS
关键词	PCB drill bit AOI edge location subpixel
URL标识	查看原文
内容类型	会议论文
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/2115898
专题	华南理工大学
作者单位	South China Univ Technol, Coll Mech Engn, Guangzhou 510640, Guangdong, Peoples R China
推荐引用方式 GB/T 7714	Zhang, W. J.[1],Li, D.[1],Ye, F.[1],等. Automatic Optical Defect Inspection and dimension measurement of drill bit (CPCI-S收录)[C]. 见:IEEE ICMA 2006: PROCEEDING OF THE 2006 IEEE INTERNATIONAL CONFERENCE ON MECHATRONICS AND AUTOMATION, VOLS 1-3, PROCEEDINGS.

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