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	Neural network approach for multiple fault test of digital circuit (CPCI-S收录)
	Pan Zhongliang[1]; Chen Ling[1]; Liu Shouqiang[1]; Zhang Guangzhao[2]
会议名称	ISDA 2006: SIXTH INTERNATIONAL CONFERENCE ON INTELLIGENT SYSTEMS DESIGN AND APPLICATIONS, VOL 3
URL标识	查看原文
内容类型	会议论文
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/2114333
专题	华南理工大学
作者单位	1.[1]South China Univ Technol, Dept Elect, Guangzhou 510631, Peoples R China 2.[2]Zhongshan Univ, Dept Elect, Guangzhou 510275, Peoples R China
推荐引用方式 GB/T 7714	Pan Zhongliang[1],Chen Ling[1],Liu Shouqiang[1],等. Neural network approach for multiple fault test of digital circuit (CPCI-S收录)[C]. 见:ISDA 2006: SIXTH INTERNATIONAL CONFERENCE ON INTELLIGENT SYSTEMS DESIGN AND APPLICATIONS, VOL 3.

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