基于pCTL的循环优化测试用例自动生成方法

	基于pCTL的循环优化测试用例自动生成方法
	余侠 ; 薛云志 ; 陶秋铭
刊名	小型微型计算机系统
	2010
卷号	31 期号:3 页码:436-440
关键词	pCTL 循环优化测试用例生成覆盖率pCTL loop optimization test case generation coverage test
ISSN号	1000-1220
其他题名	automatic generation of test cases for loop optimizations based on pctl
中文摘要	循环优化测试对保证现代编译器质量有着重要作用.传统手工构造测试用例方法面临着效率低的问题,而目前的自动构造方法对循环优化的针对性不足.提出并实现了一种基于参数化分支时序逻辑(pCTL)的循环优化测试用例自动生成方法.并用生成的测试用例对GCC-4.1.1进行覆盖率测试,结果表明该方法可以生成具有很高针对性的循环优化测试用例,并且很少的测试用例即可达到较高的覆盖程度.
学科主题	Computer Science
语种	中文
公开日期	2011-05-23
附注	Test for loop optimizations is vital to modem compiler quality.However,test cases coded by hand resultin low productivity,and the automatic generation of test cases is lack of accuracy for loop optimizations.Therefore,we suggest an automatic generation of test cases for loop optimization base on parameterized conditional temporal logic(pCTL).Experiments on coverage testing of gcc-4.1.1 show that we can generate test cases with accuracy for specific loop optimizations,and certain coverage is achieved by employing only a few test cases.
内容类型	期刊论文
源URL	[http://124.16.136.157/handle/311060/9868]
专题	软件研究所_基础软件国家工程研究中心_期刊论文
推荐引用方式 GB/T 7714	余侠,薛云志,陶秋铭. 基于pCTL的循环优化测试用例自动生成方法[J]. 小型微型计算机系统,2010,31(3):436-440.
APA	余侠,薛云志,&陶秋铭.(2010).基于pCTL的循环优化测试用例自动生成方法.小型微型计算机系统,31(3),436-440.
MLA	余侠,et al."基于pCTL的循环优化测试用例自动生成方法".小型微型计算机系统 31.3(2010):436-440.