XPS研究中几种参数对CdS中Cd　3d结合能的影响

	XPS研究中几种参数对CdS中Cd　3d结合能的影响
	李兴林 ; 张瑞峰
刊名	仪器仪表学报
	1996
卷号	17 期号:1 页码:36-40
关键词	XPS 结合能化学位移
ISSN号	0254-3087
中文摘要	本文着重从仪器本身参数方面和样品方面讨论了由于各参数的不同，对电子结合能的影响。通过半导体ＣｄＳ膜的研究，探讨了Ｃｄ　３ｄ５／２，Ｃｄ　３ｄ３／２特征峰结合能的变化规律，分析了这种变化在测试中带来的影响。
收录类别	CSCD收录国内期刊论文
语种	中文
公开日期	2010-12-22 ; 2011-06-10
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.ciac.jl.cn/handle/322003/26095]
专题	长春应用化学研究所_长春应用化学研究所知识产出_期刊论文
推荐引用方式 GB/T 7714	李兴林,张瑞峰. XPS研究中几种参数对CdS中Cd　3d结合能的影响[J]. 仪器仪表学报,1996,17(1):36-40.
APA	李兴林,&张瑞峰.(1996).XPS研究中几种参数对CdS中Cd　3d结合能的影响.仪器仪表学报,17(1),36-40.
MLA	李兴林,et al."XPS研究中几种参数对CdS中Cd　3d结合能的影响".仪器仪表学报 17.1(1996):36-40.