工业CT阵列探测器串扰率的蒙卡模拟

	工业CT阵列探测器串扰率的蒙卡模拟
	林俏露; 李公平; 王玮; 刘星
刊名	甘肃科学学报
	2012-12-25
期号	4 页码:29-31
关键词	CsI(Tl)阵列探测器蒙卡模拟串扰率金属隔板
中文摘要	阵列探测器的串扰率对工业CT系统图像重建有重要影响,通过构建W金属隔板的X射线阵列探测器的物理模型,用蒙特卡罗法模拟了阵列探测的串扰率.结果表明:在X射线能量分别为60keV、100keV、140keV时,W金属隔板能有效降低串扰率.结合MTF函数分析,得出射线能量小于140keV的最佳W金属隔板的厚度为0.3mm.
语种	中文
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.lzu.edu.cn/handle/262010/131175]
专题	核科学与技术学院_期刊论文
推荐引用方式 GB/T 7714	林俏露,李公平,王玮,等. 工业CT阵列探测器串扰率的蒙卡模拟[J]. 甘肃科学学报,2012(4):29-31.
APA	林俏露,李公平,王玮,&刘星.(2012).工业CT阵列探测器串扰率的蒙卡模拟.甘肃科学学报(4),29-31.
MLA	林俏露,et al."工业CT阵列探测器串扰率的蒙卡模拟".甘肃科学学报 .4(2012):29-31.