能量为0.2-1.2MeV质子轰击Tb,Er和Lu引起的L亚壳电离 | |
马树勋; 杨坤山; 张华林; 陈熙萌; 刘兆远 | |
刊名 | ACTA PHYSICA SINICA |
1991-11-27 | |
期号 | 11页码:1771-1775 |
关键词 | 亚壳层 质子轰击 电离截面 R理论 x射线 薄靶 原子参数 现代物理 产生截面 K壳层 |
ISSN号 | 1000-3290 |
中文摘要 | 本文以能量为0.2—1.2MeV质子轰击稀土元素Tb,Er和Lu的薄靶,测得L亚壳层电离截面及其比值,将其与ECPSSR理论值进行了比较,实验结果与理论符合得较好。 |
学科主题 | Physics |
出版地 | BEIJING |
语种 | 中文 |
内容类型 | 期刊论文 |
源URL | [http://ir.lzu.edu.cn/handle/262010/130503] |
专题 | 核科学与技术学院_期刊论文 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 马树勋,杨坤山,张华林,等. 能量为0.2-1.2MeV质子轰击Tb,Er和Lu引起的L亚壳电离[J]. ACTA PHYSICA SINICA,1991(11):1771-1775. |
APA | 马树勋,杨坤山,张华林,陈熙萌,&刘兆远.(1991).能量为0.2-1.2MeV质子轰击Tb,Er和Lu引起的L亚壳电离.ACTA PHYSICA SINICA(11),1771-1775. |
MLA | 马树勋,et al."能量为0.2-1.2MeV质子轰击Tb,Er和Lu引起的L亚壳电离".ACTA PHYSICA SINICA .11(1991):1771-1775. |
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