铝、钛和镍在250—430Kev质子轰击下产生的K壳层特征X射线

	铝、钛和镍在250—430Kev质子轰击下产生的K壳层特征X射线
	刘兆远; 马树勋; 刘绍湘; 张之津; 柳纪虎; 蔡小红; 冯嘉祯
刊名	原子与分子物理学报
	1986-10-01
期号	3 页码:175-180
关键词	K壳层:6762 特征X射线:5072 质子轰击:4380 现代物理:1472 X射线产生:1360 厚靶:1357 钛:1038 电离截面:1023 兰州大学:838 探测器:817
中文摘要	我们研究了厚靶铝、钛和镍在250到430Kev的质子轰击下产生的K壳层的特征X射线。用Si(L)探测器测量了厚靶的产额,得到了K壳层X射线的产生截面,相应壳层的电离截面,并与半经典近似的理论予言值作了比较。
语种	中文
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.lzu.edu.cn/handle/262010/130318]
专题	核科学与技术学院_期刊论文
推荐引用方式 GB/T 7714	刘兆远,马树勋,刘绍湘,等. 铝、钛和镍在250—430Kev质子轰击下产生的K壳层特征X射线[J]. 原子与分子物理学报,1986(3):175-180.
APA	刘兆远.,马树勋.,刘绍湘.,张之津.,柳纪虎.,...&冯嘉祯.(1986).铝、钛和镍在250—430Kev质子轰击下产生的K壳层特征X射线.原子与分子物理学报(3),175-180.
MLA	刘兆远,et al."铝、钛和镍在250—430Kev质子轰击下产生的K壳层特征X射线".原子与分子物理学报 .3(1986):175-180.