锡、锗化合物的光电子能谱和质谱研究

	锡、锗化合物的光电子能谱和质谱研究
	李兴林 ; 张瑞峰 ; 崔勐
刊名	光谱学与光谱分析
	1997
卷号	17 期号:4 页码:33-37
关键词	XPS MS 电子云、电负性、结合能
ISSN号	1000-0593
中文摘要	用光电子能谱（ＸＰＳ）和质谱（ＭＳ）分别研究了９种锗、锡的化合物Ｇｅ３ｄ、Ｓｎ３ｄ轨道电子结合能化学位移与其所处不同化学环境的关系。着重讨论了取代基团电负性对Ｇｅ３ｄ、Ｓｎ３ｄ结合能化学位移的影响。
收录类别	CSCD收录国内期刊论文
语种	中文
公开日期	2010-12-22 ; 2011-06-09
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.ciac.jl.cn/handle/322003/24701]
专题	长春应用化学研究所_长春应用化学研究所知识产出_期刊论文
推荐引用方式 GB/T 7714	李兴林,张瑞峰,崔勐. 锡、锗化合物的光电子能谱和质谱研究[J]. 光谱学与光谱分析,1997,17(4):33-37.
APA	李兴林,张瑞峰,&崔勐.(1997).锡、锗化合物的光电子能谱和质谱研究.光谱学与光谱分析,17(4),33-37.
MLA	李兴林,et al."锡、锗化合物的光电子能谱和质谱研究".光谱学与光谱分析 17.4(1997):33-37.