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扫描电镜X射线能谱分析法测定低能重离子注入黄豆种子的深度
高清祥; 杨汉民; 李文建; 颉红梅; 卫增泉
刊名核农学报
1996-12-20
期号4页码:239-243
关键词低能重离子 直流注入 扫描电镜 X 射线能谱分析 黄豆
中文摘要利用200kV 离子注入机产生的 Fe~+、Cu~+和 Zn~+3种重离子分别对黄豆种子进行直流注入,以扫描电镜X射线能谱分析法测定低能重离子的注入深度。测量定结果表明,Fe~+的最大注入深度未超过18μm,Cu~+、Zn~+的最大注入深度可达25μm。
语种中文
内容类型期刊论文
源URL[http://ir.lzu.edu.cn/handle/262010/154502]  
专题生命科学学院_期刊论文
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GB/T 7714
高清祥,杨汉民,李文建,等. 扫描电镜X射线能谱分析法测定低能重离子注入黄豆种子的深度[J]. 核农学报,1996(4):239-243.
APA 高清祥,杨汉民,李文建,颉红梅,&卫增泉.(1996).扫描电镜X射线能谱分析法测定低能重离子注入黄豆种子的深度.核农学报(4),239-243.
MLA 高清祥,et al."扫描电镜X射线能谱分析法测定低能重离子注入黄豆种子的深度".核农学报 .4(1996):239-243.
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