扫描电镜X射线能谱分析法测定低能重离子注入黄豆种子的深度 | |
高清祥; 杨汉民; 李文建; 颉红梅; 卫增泉 | |
刊名 | 核农学报
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1996-12-20 | |
期号 | 4页码:239-243 |
关键词 | 低能重离子 直流注入 扫描电镜 X 射线能谱分析 黄豆 |
中文摘要 | 利用200kV 离子注入机产生的 Fe~+、Cu~+和 Zn~+3种重离子分别对黄豆种子进行直流注入,以扫描电镜X射线能谱分析法测定低能重离子的注入深度。测量定结果表明,Fe~+的最大注入深度未超过18μm,Cu~+、Zn~+的最大注入深度可达25μm。 |
语种 | 中文 |
内容类型 | 期刊论文 |
源URL | [http://ir.lzu.edu.cn/handle/262010/154502] ![]() |
专题 | 生命科学学院_期刊论文 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 高清祥,杨汉民,李文建,等. 扫描电镜X射线能谱分析法测定低能重离子注入黄豆种子的深度[J]. 核农学报,1996(4):239-243. |
APA | 高清祥,杨汉民,李文建,颉红梅,&卫增泉.(1996).扫描电镜X射线能谱分析法测定低能重离子注入黄豆种子的深度.核农学报(4),239-243. |
MLA | 高清祥,et al."扫描电镜X射线能谱分析法测定低能重离子注入黄豆种子的深度".核农学报 .4(1996):239-243. |
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