热壁外延C??60?磨的特性研究 | |
陈光华; 严辉; 马国斌; 陈鹏 | |
刊名 | 北京工业大学学报
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1998-03-30 | |
期号 | 1页码:4 |
关键词 | C_(60) 热壁外延 X射线衍射 |
其他题名 | 热壁外延C_(60)膜的特性研究 |
中文摘要 | 研究了不同衬底温度下C60膜的热壁外延生长特性.X射线衍射结果表明,当衬底温度高于160℃时,在氟金云母(001)面上外延生长出完全(111)取向了C60膜,此外,对薄膜结晶的完整性及晶粒尺寸的随温度的变化进行了讨论. |
语种 | 中文 |
内容类型 | 期刊论文 |
源URL | [http://202.201.7.4:8080/handle/262010/102208] ![]() |
专题 | 物理科学与技术学院_期刊论文 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 陈光华,严辉,马国斌,等. 热壁外延C??60?磨的特性研究[J]. 北京工业大学学报,1998(1):4. |
APA | 陈光华,严辉,马国斌,&陈鹏.(1998).热壁外延C??60?磨的特性研究.北京工业大学学报(1),4. |
MLA | 陈光华,et al."热壁外延C??60?磨的特性研究".北京工业大学学报 .1(1998):4. |
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