基于STM断裂分子结技术的分子电子学研究

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	基于STM断裂分子结技术的分子电子学研究
	张浩力; 陈力川; 李君; 王乐佳
	2014-08-04
会议名称	中国化学会第29届学术年会
关键词	分子电子学纳米电极 STM 理论模拟
页码	1
中文摘要	近年来,分子电子学的研究引起了人们广泛的兴趣,应用各种微观表征技术研究有机分子的电学性质则是分子电子学领域中的重要课题之一。我们设计并合成一系列"核-壳"结构以及一系列具有不同分子构象与链接基团的分子导线,采用扫描隧道显微镜断裂分子结(STM-BJ)技术研究了不同结构的有机分子导线的电导性质。在实验的基础上,我们采用理论模拟研究了分子结中电荷传输的机理。研究结果揭示了电极表面自组装本体系中的分子间相互作用与分子构象对纳米结电学性质的影响规律。这些结论为分子导线的设计,构筑电学性能可靠的纳米电子结构提供了指导。
会议录	中国化学会第29届学术年会摘要集——第32分会：纳米表征与检测技术
语种	中文
内容类型	会议论文
源URL	[http://202.201.7.4/handle/262010/108946]
专题	化学化工学院_会议论文
推荐引用方式 GB/T 7714	张浩力,陈力川,李君,等. 基于STM断裂分子结技术的分子电子学研究[C]. 见:中国化学会第29届学术年会.