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碳硅共掺氮化铝的p型掺杂效率研究
武红磊 ; 郑瑞生 ; 孟姝 ; 黄俊毅
刊名http://epub.edu.cnki.net/grid2008/brief/detailj.aspx?filename=SZDL201102004&dbname=CJFQ2011
2012-04-27 ; 2012-04-27
关键词半导体材料 掺杂 第一性原理计算 氮化铝 受主能级 电阻率
中文摘要采用碳受主和硅施主共掺杂的方法制备低电阻率p型氮化铝晶体.通过第一性原理计算预测碳硅共掺氮化铝的p型掺杂效率及碳硅合适掺杂比.计算结果表明,在氮化铝中由碳硅共掺形成的Cn-Si络合物(n=1,2,3,4)可以稳定存在,特别是在C2-Si络合物中碳受主电离能仅有0.19 eV,比单个碳受主低0.28 eV.利用碳硅共掺方法,在实验上制备出空穴浓度为1.4×1014cm-3、迁移率为52 cm2/(V.s)的p型氮化铝晶体.
语种中文
其他责任者深圳大学光电工程学院 ; 华南师范大学光电子材料与技术研究所
内容类型期刊论文
源URL[http://ir.calis.edu.cn/hdl/244041/1516]  
专题深圳大学
推荐引用方式
GB/T 7714
武红磊,郑瑞生,孟姝,等. 碳硅共掺氮化铝的p型掺杂效率研究[J]. http://epub.edu.cnki.net/grid2008/brief/detailj.aspx?filename=SZDL201102004&dbname=CJFQ2011,2012, 2012.
APA 武红磊,郑瑞生,孟姝,&黄俊毅.(2012).碳硅共掺氮化铝的p型掺杂效率研究.http://epub.edu.cnki.net/grid2008/brief/detailj.aspx?filename=SZDL201102004&dbname=CJFQ2011.
MLA 武红磊,et al."碳硅共掺氮化铝的p型掺杂效率研究".http://epub.edu.cnki.net/grid2008/brief/detailj.aspx?filename=SZDL201102004&dbname=CJFQ2011 (2012).
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