LiB3O5晶体上四倍频增透膜设计; Design of frequency-quadrupled antireflection coating for LBO | |
谭天亚 ; 邵建达 ; 范正修 ; 吴炜 ; 郭永新 ; 韩宇 | |
刊名 | 光子学报
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2008 | |
卷号 | 37期号:6页码:1169 |
关键词 | 光学薄膜 Anti-reflection coating (ARC) 四倍频增透膜 Antireflection (AR) 矢量法 LBO晶体 容差分析 |
ISSN号 | 1004-4213 |
其他题名 | Design of frequency-quadrupled antireflection coating for LBO |
中文摘要 | 采用矢量法设计了三硼酸锂(LiB3O5,LBO)晶体上1064nm、532nm、355nm和266nm四倍频增透膜.结果表明,在1064nm、532nm、355nm和266nm波长的剩余反射率分别为0.0019%、0.0031%、0.0061%和0.0047%.根据容差分析,薄膜制备时沉积速率准确度控制在+6.5%时,基频、二倍频、三倍频和四倍频波长的剩余反射率分别增加至0.24%、0.92%、2.38%和4.37%.当薄膜材料折射率的变化控制在+3%时,1064nm波长的剩余反射率增大为0.18%,532nm、355nm和266nm波长分别达0.61%,0.59%,0.20%.与薄膜物理厚度相比,膜层折射率对剩余反射率的影响大.对膜系敏感层的分析表明,在1064nm和266nm波长,从入射介质向基底过渡的第二层膜厚度变化对剩余反射率的影响最大,其次是第一膜层.在532nm和355nm波长,从入射介质向基底过渡的第一和第四膜层是该膜系的敏感层.误差分析也表明,薄膜材料的色散对特定波长的剩余反射率具有明显影响,即1064nm、532nm、355nm和266nm波长的剩余反射率分别增加至0.30%、0.23%、0.58%和3.13%.; 1064 nm, 532 nm, 355 nm, 266 nm frequency-quadrupled antireflection (AR) coating is designed on LiB |
学科主题 | 光学薄膜 |
分类号 | O484 |
收录类别 | EI |
语种 | 中文 |
公开日期 | 2009-09-22 ; 2010-10-12 |
内容类型 | 期刊论文 |
源URL | [http://ir.siom.ac.cn/handle/181231/4690] ![]() |
专题 | 上海光学精密机械研究所_光学薄膜技术研究与发展中心 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 谭天亚,邵建达,范正修,等. LiB3O5晶体上四倍频增透膜设计, Design of frequency-quadrupled antireflection coating for LBO[J]. 光子学报,2008,37(6):1169, 1174. |
APA | 谭天亚,邵建达,范正修,吴炜,郭永新,&韩宇.(2008).LiB3O5晶体上四倍频增透膜设计.光子学报,37(6),1169. |
MLA | 谭天亚,et al."LiB3O5晶体上四倍频增透膜设计".光子学报 37.6(2008):1169. |
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