| 光子诱发正电子湮没分析技术在金属材料缺陷特性分析中的应用研究 | |
| 杨祎罡 ; 李铁柱 ; 杜英超 ; 李元景 ; 刘以农 ; Yigang Yang ; Tiezhu Li ; Yingchao Du ; Yuanjing Li ; Yinong Liu | |
| 2010-07-15 ; 2010-07-15 | |
| 会议名称 | 第十四届全国核电子学与核探测技术学术年会 ; CNKI |
| 关键词 | 高能X射线 正电子湮没分析 缺陷检测 High energy X-ray Positron annihilation analysis Defect measurement TG115.2 |
| 其他题名 | The research of Photon Induced Positron Annihilation Analysis in the Application of Defect Measurement in Metals |
| 中文摘要 | 本文研究了利用高能X射线对被检测材料进行正电子湮没分析的技术。与传统使用正电子发射体(如放射源)不同,本研究能够在材料的内部产生正电子,从而能够实现对材料深处缺陷的检测。论文建立了一个基于15MeV电子加速器的实验装置,并对低碳钢材料在不同拉伸情况下的缺陷特性进行了检测。实验结果显示,对于不同拉伸程度的材料,本技术能够对其缺陷特性进行检测。; Research of high energy X-ray based photon induced positron analysis technique was presented in this paper.Compared with the traditional(such as isotopic radiation source)positron analysis method,PIPA could produce positrons within the inspected material,so the interior defect information of it could be revealed.We setup a 15MeV bremsstrahlung X-ray based facility,and measured the 511keVγspectra of different samples of the same kind of soft steel with different extension rates.Results showed that smaller FWHM of 511keVγspectrum responded to smaller extension rate,hence a semi-empirical relation between PIPA result and material defect may exist. |
| 语种 | 中文 ; 中文 |
| 内容类型 | 会议论文 |
| 源URL | [http://hdl.handle.net/123456789/66780]  |
| 专题 | 清华大学 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 杨祎罡,李铁柱,杜英超,等. 光子诱发正电子湮没分析技术在金属材料缺陷特性分析中的应用研究[C]. 见:第十四届全国核电子学与核探测技术学术年会, CNKI. |
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