分子超激发态的理论研究:F_2分子离子对解离效率谱的标识及强度

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	分子超激发态的理论研究:F_2分子离子对解离效率谱的标识及强度
	张卫华 ; 何春龙 ; 郝玉松 ; 莫宇翔 ; 李家明
刊名	http://epub.edu.cnki.net/grid2008/brief/detailj.aspx?filename=WLXB200904032&dbname=CJFQ2009
	2012-04-22 ; 2012-04-22
关键词	量子数亏损理论超激发态离子对解离
中文摘要	在量子数亏损理论框架下,应用多重散射自洽场方法和含时波包演化法研究了F2分子经过超激发态发生离子对解离产生的F-离子产生效率谱.根据我们的计算,可以给出清楚的标识,并且对实验谱的相对强度可以给出初步说明.
语种	中文
其他责任者	上海交通大学物理系 ; 上海市激光制造与材料改性重点实验室 ; 清华大学物理系 ; 原子分子纳米科学教育部重点实验室
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.calis.edu.cn/hdl/211310/1883]
专题	清华大学
推荐引用方式 GB/T 7714	张卫华,何春龙,郝玉松,等. 分子超激发态的理论研究:F_2分子离子对解离效率谱的标识及强度[J]. http://epub.edu.cnki.net/grid2008/brief/detailj.aspx?filename=WLXB200904032&dbname=CJFQ2009,2012, 2012.
APA	张卫华,何春龙,郝玉松,莫宇翔,&李家明.(2012).分子超激发态的理论研究:F_2分子离子对解离效率谱的标识及强度.http://epub.edu.cnki.net/grid2008/brief/detailj.aspx?filename=WLXB200904032&dbname=CJFQ2009.
MLA	张卫华,et al."分子超激发态的理论研究:F_2分子离子对解离效率谱的标识及强度".http://epub.edu.cnki.net/grid2008/brief/detailj.aspx?filename=WLXB200904032&dbname=CJFQ2009 (2012).