Subset geometric phase analysis method for deformation evaluation of HRTEM images | |
Hongye Zhang ; Zhanwei Liu ; Huihui Wen ; Huimin Xie ; Chao Liu | |
刊名 | ultramicroscopy |
2016 | |
卷号 | 171页码:34-42 |
学科主题 | 半导体材料 |
收录类别 | SCI |
公开日期 | 2017-03-10 |
内容类型 | 期刊论文 |
源URL | [http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/27757] |
专题 | 半导体研究所_中科院半导体材料科学重点实验室 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | Hongye Zhang,Zhanwei Liu,Huihui Wen,et al. Subset geometric phase analysis method for deformation evaluation of HRTEM images[J]. ultramicroscopy,2016,171:34-42. |
APA | Hongye Zhang,Zhanwei Liu,Huihui Wen,Huimin Xie,&Chao Liu.(2016).Subset geometric phase analysis method for deformation evaluation of HRTEM images.ultramicroscopy,171,34-42. |
MLA | Hongye Zhang,et al."Subset geometric phase analysis method for deformation evaluation of HRTEM images".ultramicroscopy 171(2016):34-42. |
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