一种抑制低能光电子共振电离产生负离子的装置与方法; 一种抑制低能光电子共振电离产生负离子的装置与方法; 一种抑制低能光电子共振电离产生负离子的装置与方法; 一种抑制低能光电子共振电离产生负离子的装置与方法
朱立平1; 侯可勇1; 唐彬1; 赵无垛1; 黄云光1; 李海洋1; 梁沁沁1
2015-11-01
专利国别CN
专利号CN201510109958.9
专利类型发明
权利人广西电网有限责任公司电力科学研究院 | 中国科学院大连化学物理研究所
中文摘要本发明涉及质谱分析技术领域,具体应用于质谱离子源领域,具体涉及一种抑制低能光电子共振电离产生负离子的装置与方法,所述装置包括从上到下依次设置的紫外光源、推斥电极、毛细管、磁环、聚焦电极、引出电极、金属栅网和金属孔电极;应用紫外光源产生的紫外光通过推斥电极的中心孔照射到金属孔电极的表面,使金属孔电极表面发生光电效应产生光电子,并在电离区快速加速形成高能光电子,避免了低能光电子的形成;本发明有效地提高了光电子和样品分子的碰撞几率,进而提高质谱的灵敏度。
是否PCT专利
学科主题物理化学
公开日期2015-06-10
授权日期2015-11-01
申请日期2015-03-12
语种中文
专利申请号CN201510109958.9
内容类型专利
源URL[http://cas-ir.dicp.ac.cn/handle/321008/144925]  
专题大连化学物理研究所_中国科学院大连化学物理研究所
作者单位1.广西电网有限责任公司电力科学研究院
2.中国科学院大连化学物理研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
朱立平,侯可勇,唐彬,等. 一种抑制低能光电子共振电离产生负离子的装置与方法, 一种抑制低能光电子共振电离产生负离子的装置与方法, 一种抑制低能光电子共振电离产生负离子的装置与方法, 一种抑制低能光电子共振电离产生负离子的装置与方法. CN201510109958.9. 2015-11-01.
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