Inhibitation of Si-Ge interdiffusion in Ge-on-insulator structures formed by rapid melt growth | |
J.J.Wen ; Z. Liu ; T.W. Zhou ; C.L. Xue ; Y.H. Zuo ; C.B. Li ; Q.M. Wang ; B.W. Cheng | |
刊名 | thin solid films |
2015 | |
卷号 | 586页码:54-57 |
学科主题 | 光电子学 |
收录类别 | SCI |
语种 | 英语 |
公开日期 | 2016-03-22 |
内容类型 | 期刊论文 |
源URL | [http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/26646] |
专题 | 半导体研究所_光电子研究发展中心 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | J.J.Wen,Z. Liu,T.W. Zhou,et al. Inhibitation of Si-Ge interdiffusion in Ge-on-insulator structures formed by rapid melt growth[J]. thin solid films,2015,586:54-57. |
APA | J.J.Wen.,Z. Liu.,T.W. Zhou.,C.L. Xue.,Y.H. Zuo.,...&B.W. Cheng.(2015).Inhibitation of Si-Ge interdiffusion in Ge-on-insulator structures formed by rapid melt growth.thin solid films,586,54-57. |
MLA | J.J.Wen,et al."Inhibitation of Si-Ge interdiffusion in Ge-on-insulator structures formed by rapid melt growth".thin solid films 586(2015):54-57. |
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