BESIII上τ轻子对产生阈附近衰变分支比测量的模拟研究

	BESIII上τ轻子对产生阈附近衰变分支比测量的模拟研究
	花春飞; 莫晓虎; 李玉晓; 边渐鸣; 曹国富; 曹学香; 陈申见; 邓子艳; 傅成栋; 高原宁
刊名	核电子学与探测技术
	2009
期号	5 页码:1081-1087
关键词	τ阈值 eμ和eπ末态分支比模拟研究
其他题名	Monte Carlo Study of Branching Ratios Measurement at the τ-pair Production Threshold at BESIII
通讯作者	花春飞
中文摘要	利用BESⅢ的离线软件系统模拟τ轻子对在其产生阈处衰变到包含eμ和eπ子的末态;借助粒子鉴别软件对衰变末态进行筛选,得到相应的探测效率及本底比率,由此估算出相应于特定统计误差精度要求的数据获取时间。
公开日期	2016-02-26
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/219225]
专题	高能物理研究所_实验物理中心高能物理研究所_粒子天体物理中心高能物理研究所_计算中心高能物理研究所_核技术应用研究中心
推荐引用方式 GB/T 7714	花春飞,莫晓虎,李玉晓,等. BESIII上τ轻子对产生阈附近衰变分支比测量的模拟研究[J]. 核电子学与探测技术,2009(5):1081-1087.
APA	花春飞.,莫晓虎.,李玉晓.,边渐鸣.,曹国富.,...&邹佳恒.(2009).BESIII上τ轻子对产生阈附近衰变分支比测量的模拟研究.核电子学与探测技术(5),1081-1087.
MLA	花春飞,et al."BESIII上τ轻子对产生阈附近衰变分支比测量的模拟研究".核电子学与探测技术 .5(2009):1081-1087.